粉末压片制样波长色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中9种元素

• 作者: 李清彩 赵庆令
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 钼矿石 聚乙烯粉 粉末压片制样 波长色散X射线荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 839-843
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34|P618.65
• 字数: 4700字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2014.06.013

摘要

X射线荧光光谱（XRF）分析中，采用粉末压片制样存在粒度效应和矿物效应等问题，但当样品在一定的粒度、压制压力及压制时间条件下，矿物效应和粒度效应仅仅对钠、钙等轻元素的测试有影响，而对钼、铜、铅等元素的测试并无影响。基于此，本文建立了粉末压片制样波长色散XRF直接测定钼矿石中Mo、W、Cu、Pb、Zn、F、S、As、Bi等9种元素的方法。采用价格低廉的低压聚乙烯粉作衬垫镶边材料，样品在35 t的压力下压制30 s，制备的样片坚固光滑、吸潮性小，长期保存不发生形变，消除了粒度效应。选用自制的钼含量呈梯度变化的钼矿石样品及钼矿石、钨矿石、铜矿石、铅矿石、铋矿石、锌矿石等国家标准物质作为校准样品建立标准曲线，降低了矿物效应，采用经验系数法消除谱线重叠干扰和基体干扰。本方法的相对标准偏差小于2．1％，各元素的测定结果与电感耦合等离子发射光谱法等其他方法测量值吻合。与已报道的玻璃熔融和粉末压片制样方法相比较，检出限较低，如钼的检出限为3．67μg／g，比玻璃熔融法的检出限（450μg／g 或24μg／g）要低得多；砷的检出限为1．13μg／g，低于其他粉末压片法的检出限（7．8μg／g）。本方法有利于XRF法应用于定量分析基体组成复杂的钼矿石。