基于PSD的微位移测量系统研究

• 作者: 周培松 周维虎 王帅帅 祝连庆 董登峰
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: PSD 微位移 ADS7864 双线性插值
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 180-183
• 页数: 4页
• 分类号: TN364+.2
• 字数: 2782字
• 语种: 中文

摘要

介绍了PSD的结构、特性和工作原理,设计了一种基于PSD探测器的微位移测量系统.针对PSD信号输出特点和实际应用要求,提出了基于PSD的微位移信号采集、处理和上位机通信系统.单片机通过ADS7864采集PSD的输出信号,处理后由RS232接口传给上位机,位移值在上位机界面显示,实现了对光斑微位移量的实时测量.实验结果表明,该系统响应速度快、测量精度高,可广泛应用于微位移测量领域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周维虎	中国科学院光电研究院	69	454	12.0	18.0
2	祝连庆	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	178	594	11.0	16.0
3	董登峰	中国科学院光电研究院	23	156	7.0	12.0
4	周培松	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	2	28	2.0	2.0
5	王帅帅	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	1	7	1.0	1.0