AOI技术在LTCC制程中的应用研究

• 作者: 吴申立 王正义
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 低温共烧陶瓷(LTCC) 自动光学检测(AOI) 模板 应用 工艺参数 优化
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: LTCC专栏
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 分类号: TM28
• 字数: 2052字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2014.08.021

摘要

简述了自动光学检测(AOI)技术在低温共烧陶瓷(LTCC)基板研制中的应用原理,研究了影响检测性能的关键技术,实现了在LTCC生产线上通孔、印刷、检测等工艺参数的优化,为批量生产T/R(传输/接收)组件打下了良好的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王正义	中国电子科技集团公司第四十三研究所	9	12	2.0	3.0
2	吴申立	中国电子科技集团公司第四十三研究所	5	4	1.0	2.0