采用凸点识别的 RFID 微小芯片定位算法研究

• 作者: 尹周平 熊志武 陈建魁
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别 SUSAN算法 角点检测 视觉定位
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 1-5,53
• 页数: 6页
• 分类号: TN405
• 字数: 4177字
• 语种: 中文

摘要

实现微小芯片的凸点和基板天线的互连是射频识别（ RFID）电子封装设备的关键技术，其中芯片上凸点的定位是精密操作中的难点之一。研究RFID标签封装设备中芯片上凸点的视觉定位，提出一种基于改进的SUSAN （ Smallest Univalue Segment Assimilating Nucleus ）角点检测的算法。用改进的SUSAN角点检测算法提取凸点特征，根据凸点特征计算出凸点的中心坐标，以此得到凸点的位置信息，实现芯片上凸点的精确定位。目前提出的算法已成功应用到RFID封装设备HEI-DIII上，实验结果表明，与常规的特征匹配算法相比，所提出的凸点识别的RFID微小芯片定位算法耗时短，定位精度较高，对扰动和芯片的大角度旋转不敏感。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈建魁	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	29	62	4.0	6.0
2	尹周平	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	70	437	13.0	17.0
3	熊志武	华中科技大学数字制造装备与技术国家重点实验室	2	2	1.0	1.0