电快速瞬变脉冲群抗扰度误码率测试系统方案

• 作者: 王存 肖安兵 阮颐
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 高压 脉冲群 误码率
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 应用专题
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 字数: 2279字
• 语种: 中文

摘要

很多电子通讯设备在出厂时都会做电快速脉冲群瞬变抗扰度试验，但一般都只是测试设备是否被高压脉冲群损坏。本文介绍自主设计的系统，可以在高压脉冲群干扰的同时测试被测设备的通讯误码率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮颐		44	116	5.0	8.0
2	肖安兵	上海交通大学微电子学院	1	1	1.0	1.0
6	王存	上海交通大学微电子学院	1	1	1.0	1.0