一种精确测量AC-DC电源管理类芯片的方法

• 作者: 付俊爱 顾卫民
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: AC-DC电路 圆片测试 成品测试 闭环测试 测试参数 自动测试设备 管芯
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 16-20
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 字数: 2823字
• 语种: 中文

摘要

对于AC-DC电路测试，圆片测试（CP）一般采用开环测试的方法，测试项目较少，从而使CP的测试时间大大减少，提高了测试效率以及测试产能。CP测试的目的是测试基准电压以及输出波形等参数，并对相应参数进行工艺上的修调，使得这些参数达到中心值，保证芯片基本功能的准确；但CP测试并不是应用环境下的芯片状态，所以当AC-DC电路进行成品测试（FT）的时候，通过模拟芯片的应用环境来测试芯片在应用端的参数，从而确保芯片在工作环境中能正常应用，达到检测芯片的目的。主要介绍了AC-DC电路在闭环应用环境下各项参数的测试方法，确保电路功能的稳定性以及可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付俊爱		2	4	1.0	2.0
2	顾卫民		4	5	1.0	1.0