新型单粒子效应测试系统控制程序的设计

• 作者: 孔洁 杨振雷 杨海波 王晓辉 童腾 苏弘 赵兴文
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 控制程序 多线程 运行效率
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 1311-1315
• 页数: 5页
• 分类号: TL8
• 字数: 2884字
• 语种: 中文

摘要

半导体集成电路（ Integrated Circuit，IC）在辐射环境中，容易受到单粒子效应（ Single Event Effect，SEE）的影响而发生故障。为了测试集成电路的SEE敏感性，验证SEE加固方法，设计了一套SEE测试系统。介绍了SEE测试系统控制程序的设计。控制程序采用引导式的流程管理，可扩展的待测器件信息管理，多线程数据采集和处理方法以及可靠的数据接收方法等多种设计方法，提高了程序的运行效率，保证了实验数据接收和处理的实时性和可靠性，良好地支撑了SEE测试系统的运行工作。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏弘	中国科学院近代物理研究所	88	364	9.0	15.0
2	王晓辉	中国科学院近代物理研究所	70	810	13.0	26.0
6	孔洁	中国科学院近代物理研究所	16	25	3.0	4.0
7	杨振雷	中国科学院近代物理研究所	5	11	1.0	3.0
11	赵兴文	中国科学院近代物理研究所	2	8	1.0	2.0
15	童腾	中国科学院近代物理研究所	1	1	1.0	1.0