钼靶X射线参考野均匀性测量及剂量分布研究

• 作者: 吴金杰 周四春 蒋伟 郭彬 陈法君
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 钼靶X射线 均匀野 二维电离室矩阵 指形电离室
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 1279-1282,1286
• 页数: 5页
• 分类号: TL84
• 字数: 2497字
• 语种: 中文

摘要

采用二维电离室矩阵法和指形电离室扫描法测量X射线辐射场均匀野。二维电离室矩阵法快速、简便，可实现X射线主射束、光阑、快门、过滤片、定位装置同轴的调整。指形电离室逐点扫描法测量辐射野均匀区，具有一致性好，结果准确可靠之特点。距钼靶焦斑1m处，指型电离室测得水平方向均匀性好于95％的辐射野尺寸约为124 mm。竖直方向均匀性好于95％的辐射野尺寸约为103 mm。满足钼靶X射线基准建立和量值传递要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	周四春		75	390	11.0	15.0
3	郭彬		15	39	5.0	5.0
4	蒋伟		5	21	3.0	4.0
8	陈法君		5	19	3.0	4.0