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摘要:
针对氧化锌压敏电阻芯片在8/20μs电流冲击初期,芯片压敏电压变化较小,老化程度无法通过静态参数判别的问题,本文设计了工频过电压耐受下的ZnO压敏电阻冲击老化试验,研究了ZnO压敏电阻芯片不同冲击老化情况,耐受工频恒定不同幅值过电压过程和耐受阶段流经芯片内部电流Iin随时间的变化关系;结合双肖特基势垒理论和ZnO压敏电阻芯片Voronoi网格微观结构模型,分析试验结论。结果表明:耐受工频恒定相同幅值过电压,ZnO压敏电阻芯片经8/20μs电流冲击后老化程度越深其流过芯片内部电流Iin的初始值越大;且 lin 值随时间上升速率与初始冲击老化程度呈正比;相同老化程度ZnO压敏电阻芯片耐受过电压幅值越大,耐受时间越短,Iin的初始值越大。这些可为ZnO压敏电阻冲击老化劣化初期判别提供依据。
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文献信息
篇名 工频过电压耐受下氧化锌压敏电阻冲击老化性能研究
来源期刊 电测与仪表 学科 工学
关键词 氧化锌压敏电阻 8/20μs冲击老化 工频耐受下ZnO压敏电阻内部电流 耐受时间
年,卷(期) 2014,(14) 所属期刊栏目 理论与实验研究
研究方向 页码范围 32-37
页数 6页 分类号 TM862
字数 4111字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 行鸿彦 南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心 137 1324 19.0 31.0
5 杨天琦 5 29 4.0 5.0
6 张欣 南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心 8 32 4.0 5.0
10 宋晨曦 南京信息工程大学江苏省气象灾害预报预警与评估协同创新中心 2 22 2.0 2.0
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8/20μs冲击老化
工频耐受下ZnO压敏电阻内部电流
耐受时间
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电测与仪表
半月刊
1001-1390
23-1202/TH
大16开
哈尔滨市松北区创新路2000号
14-43
1964
chi
出版文献量(篇)
7685
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22
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55393
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