热处理对IrxOy-SnO2/Ti电极电容稳定性的影响

• 作者: 唐电 娄长影 林星星 邵艳群
• 来源期刊: 材料热处理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化铱电极 比电容 热处理
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 组织性能
• 页码范围: 66-70
• 分类号: TG151.1|TG166.7
• 语种: 中文

摘要

以H2IrCl6和SnCl4为源物质,Ir和Sn原子摩尔比4∶6为组成,采用热分解法制备了IrxOy-SnO2/Ti电极.通过X射线光电子能谱分析(XPS)和循环伏安测试法分析了热处理温度和保温时间对电极的组成、稳定比电容和反应激活能的影响.结果表明:电极材料由+3价和+4价的混合铱氧化物和SnO2组成.内电荷量均比外电荷量大,内电荷、外电荷和总电荷均随温度升高先增后减,320℃的电极具有最高总电荷量513.9 mC·cm-2,保温11h达到其稳定比电容280 F·g IrO2-1.即使经过360℃热处理,稳定比电容均高于150 F·g IrO2-1.不同热处理温度获得稳定比电容所需要的保温时间符合Arrhenius方程,反应激活能为4.54 kJ/mol.反应激活能小,保温过程对比电容的影响较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐电	福州大学材料科学与工程学院	113	712	15.0	20.0
2	邵艳群	福州大学材料科学与工程学院	79	337	10.0	13.0
3	娄长影	福州大学材料科学与工程学院	6	21	3.0	4.0
4	林星星	福州大学至诚学院材料科学与工程系	4	2	1.0	1.0