不同频率和温度的电晕放电对聚酰亚胺薄膜的损伤特性研究

• 作者: 徐跃 邓小军
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 温度 频率 聚酰亚胺薄膜 局部放电 老化寿命
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.3|TM851
• 语种: 中文

摘要

基于局部放电测试系统，构建了不同温度和频率下聚酰亚胺薄膜的老化寿命模型，研究了频率和温度对聚酰亚胺薄膜损伤特性的影响。结果表明：不同温度下聚酰亚胺薄膜的电晕老化寿命与施加的电压频率成非线性衰减关系；频率增加，导致放电残余电荷不易扩散和单位时间内放电次数增多，绝缘寿命缩短；随着温度的升高，放电现象可能经历显著增强、平稳、再剧烈的3个阶段。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓小军		7	34	4.0	5.0
2	徐跃		1	11	1.0	1.0