面神经下颌缘支暴露长度与其功能损失程度的相关性研究

• 作者: 左莉 张练平 李旗 贾国栋 钱磊
• 来源期刊: 山西医科大学学报
• 学科: 医学
• 关键词: 面神经损伤 腮腺切除术 肌电描记术 相关性分析
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 临床医学
• 页码范围: 511-514
• 页数: 4页
• 分类号: R782
• 字数: 4012字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13753/j.issn.1007-6611.2014.06.021

摘要

目的 探讨腮腺切除术中面神经暴露长度与其功能损失程度之间的相关性.方法 对年龄30-55岁、术前无面瘫的14例腮腺肿瘤患者行保留面神经的腮腺切除术,术中测量所暴露下颌缘支的长度,术后2周对患侧和健侧下颌缘支行神经电图(electroneurography,EN0G)检测,计算患侧EN0G波幅损失百分比及潜伏时延长百分比,对下颌缘支暴露长度、ENoG波幅损失百分比、潜伏时延长百分比三个变量行正态性检验,三变量总体均服从正态分布,分别绘制下颌缘支暴露长度与ENoG波幅损失百分比、潜伏时延长百分比双变量间的散点图,并分别行Pearson相关分析.结果 下颌缘支暴露长度与ENoG波幅损失百分比之间的散点图有线性趋势(r =0.497,P=0.071).下颌缘支暴露长度与EN0G潜伏时延长百分比之间的散点图无线性趋势(r=0.083,P=0.779).结论 腮腺切除术中,面神经的暴露长度与其功能损失程度之间尚不能认为有相关性,面神经的暴露长度可能通过其他因素影响面神经功能,不是影响面神经功能的主要因素或直接因素.