基于光采样的瞬时测频技术研究

• 作者: 秦国栋 赵国庆 闫浩
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 瞬时测频 光采样 线性调频z变换 中国余数定理 欠采样
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 72-78
• 页数: 7页
• 分类号: TN971.+1
• 字数: 4822字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13443/j.cjors.2013022701

摘要

传统高频微波信号瞬时测频(Instantaneous Frequency Measurement,IFM)技术受模拟数字转换器(Analog To Digital Converter,ADC)影响很大.提出了一种新的光采样方法,放弃传统的ADC,利用光强度调制器将高频微波信号调制到低重复频率采样光脉冲上,进而达到光采样的目的.利用快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)结合线性调频z变换(Chirp-z Transform,CZT)的方法,提高频谱分辨率,对欠采样条件下产生的频率余数进行准确估计,进而通过中国余数定理对信号频率进行重构.实验模拟表明,该方法可以对39 GHz带宽内信号频率进行准确测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦国栋	西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室	14	116	8.0	10.0
2	赵国庆	西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室	130	1497	21.0	32.0
3	闫浩	西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室	5	30	3.0	5.0