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硅基密封气密性及结构强度研究
硅基密封气密性及结构强度研究
作者:
丁荣峥
吉勇
明雪飞
燕英强
陈波
高娜燕
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
硅基封装
气密性
结构强度
摘要:
探讨了硅基气密性封装的可行性,将电镀镍-金镀层的柯伐盖板、密封区金属化的硅基板用金锡焊料片通过熔封形成密封。硅是一种脆性材料,在硅基气密性密封结构中,需要研究气密性封装腔体大小对结构强度的影响(规律),以及可承受的压力。试验结果表明,腔体小于11 mm×27 mm时(腔体高度不限),350μm厚度的硅基板可直接与柯伐盖板密封,密封结构中的硅基板不会碎裂且可承受至少0.1 MPa的压力。
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文献信息
篇名
硅基密封气密性及结构强度研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
硅基封装
气密性
结构强度
年,卷(期)
2014,(8)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
15-17,48
页数
4页
分类号
TN305.94
字数
2358字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
丁荣峥
19
65
4.0
7.0
2
陈波
31
45
3.0
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3
高娜燕
9
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4
明雪飞
8
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吉勇
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
硅基封装
气密性
结构强度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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