智能仪器的抗干扰技术研究

• 作者: 侯永春
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 地球科学
• 关键词: 智能仪器 抗干扰 印制电路
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 72-74,42
• 页数: 4页
• 分类号: TN973.3|P23
• 字数: 3631字
• 语种: 中文

摘要

智能仪器的可靠性是由多种因素决定的，其中抗干扰性能是智能仪器可靠性的重要指标。在智能仪器的设计与使用过程中，会遇到各种来自外界及仪器本身的干扰，如果不采取有效的措施，智能仪器的可靠性能就会大幅降低，甚至会出现仪器无法正常工作的现象。本文针对设计中常遇到的干扰及干扰的来源进行了分析，并从应用的角度对硬件抗干扰技术、软件抗干扰技术、印制电路板抗干扰技术进行了论述。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯永春		11	12	3.0	3.0