纳米尺度超低漏电ESD电源钳位电路研究

• 作者: 张钢刚 张雪琳 曹健 王源 贾嵩 陆光易
• 来源期刊: 北京大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电 泄漏电流 电源钳位电路 亚阈值电流
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 595-599
• 页数: 5页
• 分类号: TP333
• 字数: 2221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13209/j.0479-8023.2014.103

摘要

提出一种新型超低漏电ESD电源钳位电路.该电路采用具有反馈回路的ESD瞬态检测电路,能够减小MOS电容栅极-衬底之间电压差,降低电路的泄漏电流,抑制ESD泄放器件的亚阈值电流.65 nm CMOS工艺仿真结果表明,在电路正常上电时,泄漏电流只有24.13 nA,比传统ESD电源钳位电路的5.42 μA降低两个数量级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾嵩	北京大学微电子学研究院教育部微电子器件与电路重点实验室	19	79	5.0	8.0
2	王源	北京大学微电子学研究院教育部微电子器件与电路重点实验室	20	87	5.0	9.0
3	张雪琳	北京大学微电子学研究院教育部微电子器件与电路重点实验室	1	3	1.0	1.0
4	曹健	北京大学微电子学研究院教育部微电子器件与电路重点实验室	10	29	3.0	5.0
5	陆光易	北京大学微电子学研究院教育部微电子器件与电路重点实验室	2	8	2.0	2.0