G.657光纤熔接和熔接损耗测试

• 作者: 严长峰 庹琦翔 张立岩 胡勇
• 来源期刊: 电信工程技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: G.657.A2 熔接 黑线 晕环 OTDR
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 工程与设计
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TN913.7
• 字数: 1591字
• 语种: 中文

摘要

在G.657.A2光纤推广和使用过程中，熔接和熔接损耗的测试出现了比较突出的问题或认识误区，本文分别针对“黑线”和“晕环”现象、熔接参数调整、OTDR测试熔接损耗“大正大负”等方面的问题进行了解释和汇总。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡勇		4	5	2.0	2.0
2	张立岩		3	3	1.0	1.0
6	严长峰		2	2	1.0	1.0
10	庹琦翔		1	2	1.0	1.0