晶闸管开关电路在低压电器电寿命试验中的应用与分析

• 作者: 杨祥 蒋凡 马琳
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电寿命试验 晶闸管开关电路 无触点式 非物理分断 过零 滤波
• 年，卷（期）: 2014,（19）
• 所属期刊栏目: 检测与试验
• 页码范围: 33-37,67
• 页数: 6页
• 分类号: TM506
• 字数: 3462字
• 语种: 中文

摘要

采用晶闸管开关电路对较大过程试验电流进行无触点式非物理分断，替代机械开关实现了试验电路中陪试品的功能，极大地降低了产品试验站的硬件投入和人力维护成本，提高了测试效率。分析采用软件滤波的方式实现了波形的优化处理，解决了实际中的问题。最后通过试验，验证了该改造陪试电路的可行性和相应软件滤波方法的正确性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨祥		8	23	3.0	4.0
2	蒋凡		2	6	2.0	2.0
3	马琳	西门子中国有限公司中国研究院	1	3	1.0	1.0