一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案

• 作者: 吴俊敏 胡蝶
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 故障模型 March算法 DDR2内存条 芯片级并行 访存控制器级并行
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 开发研究与工程应用
• 页码范围: 310-314
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 字数: 3409字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2014.03.066

摘要

针对 March类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长，且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题，提出一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案。该方案包括2种并行检测方法：(1)根据DDR2的结构和工作原理设计的芯片级并行，可以并行检测一个DDR2内部的多个内存芯片。(2)根据访存控制器的结构和工作原理设计的访存控制器级并行，可并行检测多个DDR2内存条。对于芯片级并行，访存带宽越大，即并行检测的芯片个数越多，并行效果越好，从1个芯片到并行检测8个芯片，内存的检测时间几乎是呈线性递减的。对于访存控制器级并行，访存控制器数量越多并行效果越好，从1个LMC到2个LMC，内存的检测时间几乎减少了一倍。实验结果表明，2种并行检测方法不仅能够成倍加快检测速度，而且更适用于用户对内存的检测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴俊敏	中国科学技术大学计算机科学与技术学院	46	252	9.0	12.0
5	胡蝶	中国科学技术大学计算机科学与技术学院	3	7	1.0	2.0