一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案

• 作者: 代广珍 孟坚 徐太龙 陈军宁 鲁世斌
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 低功耗 系统芯片 内建自测试 电源关断 多电源多电压 扫描链
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 开发研究与工程应用
• 页码范围: 306-309
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 字数: 1844字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2014.03.065

摘要

低功耗技术，如多电源多电压和电源关断等的应用，给现代超大规模系统芯片可测试性设计带来诸多问题。为此，采用工业界认可的电子设计自动化工具和常用的测试方法，构建实现可测试性设计的高效平台。基于该平台，提出一种包括扫描链设计、嵌入式存储器内建自测试和边界扫描设计的可测性设计实现方案。实验结果表明，该方案能高效、方便和准确地完成低功耗系统芯片的可测性设计，并成功地在自动测试仪上完成各种测试，组合逻辑和时序逻辑的扫描链测试覆盖率为98.2%。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈军宁	安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室	160	1135	16.0	26.0
2	徐太龙	安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室	23	59	5.0	5.0
3	孟坚	安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室	39	122	6.0	9.0
4	鲁世斌	安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室	29	39	4.0	5.0
8	代广珍	安徽大学电子信息工程学院安徽省集成电路设计实验室	9	62	4.0	7.0