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摘要:
随着电子电器类产品的高速发展,ITE产品的工作频率越来越高,电子产品彼此之间干扰的影响频率范围也在不断扩大,辐射抗干扰的测试频率范围在提升,同时对辐射抗干扰测试的场地要求也越来越重视,该文主要介绍辐射抗干扰场地的校准方法和校准问题的处理.
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文献信息
篇名 用固定功率法进行辐射抗扰度场地场均匀度校准
来源期刊 电子质量 学科 物理学
关键词 场均匀度 全电波暗室 固定功率法 电压探头
年,卷(期) 2014,(7) 所属期刊栏目 实验室特写
研究方向 页码范围 84-86
页数 3页 分类号 O422.6
字数 1244字 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
场均匀度
全电波暗室
固定功率法
电压探头
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
广州市五羊新城广兴花园32号一层
46-39
1980
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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