微孔缺陷对晶硅太阳电池性能的影响研究

• 作者: 任丙彦 李宁 李守卫 杨伟强 王松 魏红军
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 晶硅 太阳电池 缺陷 激光扫描共聚焦显微
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 字数: 2193字
• 语种: 中文

摘要

铸锭晶硅材料的微孔缺陷,是影响太阳电池光电转换性能的重要因素.本文对晶硅材料的微孔缺陷在电池工艺中的形态变化进行了研究,试验结果证实,该微孔缺陷是导致电池并联电阻降低的主要原因.本文利用透光测试技术分析了晶片中的微孔缺陷,结合激光扫描共聚焦显微(LSCM)技术对漏电区域的形貌进行分析研究,实验结果表明,微孔缺陷与电极重合将导致表面金属浆料的塌陷,是形成电池漏电的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李宁		35	207	9.0	12.0
2	任丙彦		31	241	9.0	14.0
3	魏红军		5	3	1.0	1.0
4	杨伟强		4	3	1.0	1.0
5	王松		2	1	1.0	1.0
6	李守卫		2	5	1.0	2.0