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摘要:
针对单核处理器MMU无法满足TD-LTE射频一致性测试仪对存储系统提出的高性能需求,提出了一种基于功能强大的ARM+DSP双核嵌入式系统的MMU实现方法.根据TD-LTE系统的设计需求,重点介绍了双核MMU在不同环境下的设计及其与各种方案的对比分析.基于双核系统中ARM与DSP处理器各自特点和需求,设计了两种MMU.在实现重映射后,双核系统实现上电自启动,并顺利响应了来自GPIO的IRQ中断.
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文献信息
篇名 ARM+DSP系统MMU在射频一致性测试仪表的实现
来源期刊 自动化仪表 学科 工学
关键词 嵌入式 双核处理器 ARM DSP MMU
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 新型测试技术与方法
研究方向 页码范围 55-58,62
页数 5页 分类号 TN929+.5
字数 3690字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈发堂 重庆邮电大学通信与信息工程学院 134 428 10.0 12.0
2 郭丽强 重庆邮电大学通信与信息工程学院 3 12 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
嵌入式
双核处理器
ARM
DSP
MMU
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
自动化仪表
月刊
1000-0380
31-1501/TH
大16开
上海市漕宝路103号
4-304
1957
chi
出版文献量(篇)
6519
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42894
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