篇名 | Utilizing a shallow trench isolation parasitic transistor to characterize the total ionizing dose effect of partially-depleted silicon-on-insulator input/output n-MOSFETs | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | partially depleted silicon-on-isolator n-MOSFET sidewall implant shallow trench isolation total ionizing dose | ||
年,卷(期) | 2014,(9) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 154-160 | |
页数 | 7页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/23/9/090702 |