基于光栅测量的数控机床精度控制及故障处理

• 作者: 蒙斌
• 来源期刊: 工业仪表与自动化装置
• 关键词: 数控机床 光栅测量 精度控制 故障处理
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TG659
• 语种: 中文

摘要

分析了闭环伺服系统的控制特性和控制要求。对采用光栅作为检测装置的数控机床，指出了影响数控机床控制精度和加工精度的主要因素。提出了对检测反馈信号进行倍频处理，从而提高闭环伺服系统检测精度及控制精度的措施。给出了倍频处理电路和EXE信号处理电路的设计方法。针对光栅使用中可能出现的故障，给出了故障诊断及处理方法。该方法不但可以提高数控机床的控制精度，改善闭环控制系统的特性，而且可以方便地进行测量系统故障的诊断与处理。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒙斌	宁夏大学机械工程学院	13	15	1.0	3.0