老化试验中温度变化问题探讨

• 作者: 冯建 罗俊 胡波 邢宗锋
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电路功率 烘箱温场 功率器件 耗散功率
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 环境试验 ENVIRONMENTAL TESTING
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN722.7
• 字数: 3052字
• 语种: 中文

摘要

介绍了烘箱老化环境温度受电路功率，老化板摆放位置的变化、烘箱风速变化等因素的影响导致烘箱内温场出现变化，烘箱内温场变化剧烈的会影响产品的正常老化，形成过应力的情况，严重时会造成电路失效。对影响烘箱温度的因素进行了试验监控分析，找出了影响烘箱温场的主要原因和规律，防止老化电路过温失效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗俊	中国电子科技集团公司第二十四研究所	46	176	8.0	10.0
2	胡波	中国电子科技集团公司第二十四研究所	10	49	3.0	7.0
3	冯建	中国电子科技集团公司第二十四研究所	6	8	2.0	2.0
4	邢宗锋	中国电子科技集团公司第二十四研究所	8	50	6.0	7.0