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华虹宏力在嵌入式非易失性存储器领域保持领先
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摘要：
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嵌入式系统中存储器性能研究
嵌入式系统
动态随机存储器
故障检测
失效模型
嵌入式存储器的内建自修复设计
嵌入式存储器
内建自测试
内建自修复
嵌入式存储器内建自测试方法
嵌入式存储器
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集成电路应用
主办单位：
上海贝岭股份有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1674-2583
CN：
31-1325/TN
开本：
16开
出版地：
上海宜山路810号
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
4823
总下载数（次）
15
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