一种基于二分查找的电路选择性加固方案

• 作者: 张丽娜 梁华国 邢璐 黄正峰
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 可靠性 选择性加固 二分查找算法
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 736-741
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.7
• 字数: 3424字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.2014.07.008

摘要

工艺技术进入微米级之后，放射性粒子引起的电路软错误率不断升高，现有加固技术通常会带来较大的面积开销。为了平衡电路面积开销和可靠性，提出了一种新的电路加固平衡指标AF，并基于二分查找替换算法，将电路中的敏感寄存器替换为三模冗余寄存器来有效容忍电路中的软错误。实验结果表明，方案可以使电路平均故障间隔时间（ MTBF）平均增加为原来的181．37％，显著地提高了电路的可靠性。在同样的实验条件下，与其他方案相比，提出的方案能获得更小AF值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	张丽娜	合肥工业大学计算机与信息学院	5	23	3.0	4.0
4	邢璐	合肥工业大学计算机与信息学院	3	9	2.0	3.0