Offner型成像光谱仪波长使用范围和光谱分辨率研究

• 作者: 倪争技 张大伟 洪瑞金 裴梓任 韩姗 黄元申
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅光谱仪 波长范围 光谱分辨率 凸面光栅 Offner结构
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 光谱学
• 页码范围: 172-177
• 分类号: TH744.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20144307.0730004

摘要

研究了Offner型成像光谱仪消像差结构的参量和性能.用几何法推导出Offner型成像光谱仪的波长使用范围、系统线色散以及光谱分辨率的计算公式;在理想像差条件下,分析了Offner型成像光谱仪光谱分辨率与入射狭缝的宽度、凸面光栅分辨率和探测器像元尺寸各个因素之间的关系;探讨了提高光谱分辨率采用的方法和技术,解决了光谱仪的各个参量和光谱分辨率之间的矛盾.研究表明:当系统像差很小可忽略时,通过减小狭缝宽度,有利于提高光谱分辨率;Offner型成像光谱仪的分辨率由入射狭缝宽度、光栅和CCD像元尺寸三者中分辨本领最低的参量确定.