扫描透射电子显微镜及电子能量损失谱的原理及应用

• 作者: 李超 杨光
• 来源期刊: 物理
• 关键词: 扫描透射电子显微镜 高角环形暗场像 电子能量损失谱
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 实验技术 Experimental Technology
• 页码范围: 597-605
• 页数: 9页
• 字数: 7458字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7693/wl20140904

摘要

扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种，近几年随着球差校正器的问世，扫描透射电子显微镜的分辨率达到亚埃级，结合能量分辨率为亚电子伏特的电子能量损失谱，可以对材料进行高空间分辨率及高能量分辨率的微结构和成分分析。文章简述了扫描透射电子显微镜的发展历程和工作原理，重点讲述了高角环形暗场像的成像机理以及基于高角环形暗场像对材料结构和成分进行分析的原理和应用；电子能量损失谱的成谱过程、谱的特征及其在材料化学和电子结构分析方面的优势和主要应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨光	西安交通大学电子与信息工程学院电子陶瓷与器件教育部重点实验室	29	205	9.0	14.0
2	李超	西安交通大学电子与信息工程学院电子陶瓷与器件教育部重点实验室	49	200	7.0	13.0