元器件开短路测试应用

• 作者: 王展
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 开短路测试 静电保护
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: TN6
• 字数: 1826字
• 语种: 中文

摘要

该文从开短路测试原理出发,使用A567测试台对二输入与非门54LS00的输入、输出管脚进行Open-Short测试,验证了此方法快速检测出被测器件是否存在引脚短路、断路、静电保护功能丧失等缺陷的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王展		2	4	2.0	2.0