电致发光技术在非晶硅组件量产中的应用

• 作者: 吕建党 周长友 朱鑫
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 电致发光 非晶硅组件 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 字数: 2148字
• 语种: 中文

摘要

本文基于电致发光(EL)的原理,利用红外检测的方法,检测出非晶硅电池中存在的隐性缺陷,如漏电及电阻不均等.实验表明,EL检测在非晶硅薄膜电池与晶体硅电池中存在较大差别,非晶硅EL图像中的暗斑多由漏电引起,大量暗斑使组件的功率大幅下降;非晶硅EL图像中没有晶体硅EL图像中的断栅、隐裂等现象;非晶硅EL图像要求更高清晰度和细节显示.针对这些差别,应在薄膜电池EL检测应用中优化EL检测设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周长友		1	0	0.0	0.0
2	吕建党		2	0	0.0	0.0
3	朱鑫		3	6	1.0	2.0