全自适应数字阵列的近场测试

• 作者: 刘雪晶 夏德平
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 全自适应数字阵列 近场测试 校准 干扰抑制
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 88-91
• 页数: 4页
• 分类号: TN957
• 字数: 2231字
• 语种: 中文

摘要

在模拟阵列近场测试基础上,对全自适应数字阵列的近场测试进行研究,结合全自适应数字阵列的特点,采用多通道并行处理等技术,对近场测试系统进行全面升级,从而解决全自适应数字阵列的测试难题.另外,为了解决干扰抑制零深评估的难题,采用改进后的近场测试系统,对自适应响应波束进行测试,从而得到真实的干扰抑制零深.仿真和实验结果表明,改进后的近场测试系统能完成全自适应数字阵列测试,从而实现了对全自适应数字阵列的全面评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏德平		7	18	3.0	4.0
2	刘雪晶		2	6	1.0	2.0