HTPB推进剂老化机理的分子模拟

• 作者: 孟胜皓 李洪广 杜仕国 秦浩 闫军
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 化学
• 关键词: 高分子化学 老化机理 降解 氧化交联 分子模拟
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 特别策划:计算含能材料
• 页码范围: 291-294
• 页数: 4页
• 分类号: TJ55|V512|O63
• 字数: 2447字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2014.03.004

摘要

为了研究HTPB推进剂的老化机理,采用量子化学方法,计算了端羟基聚丁二烯-甲苯二异氰酸酯(HTPB-TDI)固化体系中化学键的键能,搜索了HTPB推进剂老化过程中可能发生的四个氧化反应的过渡态.结果表明,与CH2基团相连的C-O键的键能最小,为244.95 kJ· mol-1,在老化降解过程最容易发生断裂.老化过程中可能发生的四种氧化交联反应的活化能均较小,小于HTPB-TDI固化分子降解断裂所需要的能量,说明氧化交联反应是HTPB推进剂老化的主要原因,其中生成三元环氧反应的活化能最小,为12.59 kJ·mol-1.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫军		91	632	13.0	18.0
2	杜仕国		141	1955	26.0	36.0
3	李洪广		11	65	6.0	7.0
4	秦浩		4	26	3.0	4.0
5	孟胜皓		7	43	4.0	6.0