基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
采用分子束外延方法在 GaSb 衬底上生长InAs/GaSb 超晶格红外薄膜材料,为获得台面结构,采用电感耦合等离子体(ICP)刻蚀技术和 Cl2/Ar 刻蚀气体,分别研究了不同刻蚀时间、不同气体比例及不同功率对 GaSb、InAs 及 InAs/GaSb 超晶格刻蚀速率和刻蚀形貌的影响。结果表明,由于刻蚀产物 InClx 的低挥发性阻挡了 Cl2的刻蚀,InAs 的刻蚀速率低于GaSb;Cl2比例在20%~40%时,刻蚀表面粗糙度最小,明显低于湿法腐蚀造成的表面损伤,有助于形成良好的欧姆接触和减小器件的表面漏电流。
推荐文章
InAs/GaSb Ⅱ类超晶格台面的ICP刻蚀研究
电感耦合等离子
刻蚀
InAs/GaSb Ⅱ类超晶格
焦平面
InAs/(In)GaSb Ⅱ类超晶格红外探测器研究现状
InAs/GaSb
Ⅱ类超晶格
红外探测器
第三代焦平面
InAs/GaSb超晶格长波红外探测器
InAs/GaSb
Ⅱ类超晶格
长波红外
中波 InAs/GaSb 超晶格红外焦平面探测器
InAs/GaSb超晶格
红外焦平面探测器
分子束外延
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 InAs/GaSb 超晶格红外探测器台面的 ICP 刻蚀研究
来源期刊 功能材料 学科 工学
关键词 InAs/GaSb 超晶格 ICP 刻蚀 刻蚀速率 表面形貌
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 工艺??技术
研究方向 页码范围 1122-1124,1128
页数 4页 分类号 TN362|TN350.2
字数 3032字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-9731.2014.01.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 满石清 云南师范大学物理与电子信息学院 6 24 1.0 4.0
2 郝瑞亭 云南师范大学物理与电子信息学院 14 22 3.0 4.0
3 郭杰 云南师范大学物理与电子信息学院 15 24 3.0 4.0
4 赵前润 云南师范大学物理与电子信息学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (15)
共引文献  (5)
参考文献  (7)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1992(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1996(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1997(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1999(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2004(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2005(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2006(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2008(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2014(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
InAs/GaSb
超晶格
ICP 刻蚀
刻蚀速率
表面形貌
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
功能材料
月刊
1001-9731
50-1099/TH
16开
重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
78-6
1970
chi
出版文献量(篇)
12427
总下载数(次)
30
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导