基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案

• 作者: 安佰岳 徐鹏程 李洋 杜影 王石记 郑义
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式测试 可测性 边界扫描 微控制器
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 686-689
• 页数: 4页
• 分类号: TM57
• 语种: 中文

摘要

为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑义		5	13	2.0	3.0
2	杜影		12	19	2.0	3.0
3	安佰岳		5	28	3.0	5.0
4	王石记		10	60	4.0	7.0
5	李洋		10	20	2.0	4.0
6	徐鹏程		5	7	2.0	2.0