考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法

• 作者: 刘铁桥 王伟征 蔡烁 邝继顺
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 信号相关性 扇出重汇聚 降阶 条件概率
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1660-1664
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 字数: 3767字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.08.032

摘要

随着集成电路特征尺寸不断缩小,软错误已经成为影响电路可靠性的关键因素.计算软错误影响下逻辑电路的信号概率能辅助评估电路的可靠性.引起逻辑电路信号概率计算复杂性的原因是电路中的扇出重汇聚结构,本文提出一种计算软错误影响下逻辑电路可靠度的方法,使用概率公式和多项式运算,对引发相关性问题的扇出源节点变量作降阶处理,再利用计算得到的输出信号概率评估电路可靠度.用LGSynth91基准电路、74系列电路和ISCAS85基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法准确有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学信息科学与工程学院	82	418	11.0	16.0
2	蔡烁	湖南大学信息科学与工程学院	18	26	3.0	4.0
6	刘铁桥	湖南大学信息科学与工程学院	8	22	3.0	4.0
7	王伟征	长沙理工大学计算机与通信工程学院	16	38	4.0	4.0