长寿命电气二次设备的加速试验方法

• 作者: 刘志远 姜帅 席亚克 杜军 梁经宛 牛强
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 长寿命二次设备 应力-寿命加速寿命试验 weibull分布 平均无故障时间
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 理论与实验研究
• 页码范围: 39-44
• 页数: 6页
• 分类号: TM761
• 字数: 5180字
• 语种: 中文

摘要

以继电保护装置为例对电气二次设备实际寿命进行了调研和分析,总结出目前影响电气二次设备寿命的主要因素、影响机理和相应的对策;重点以20年使用寿命为目标,利用影响因素结论构建了基于Weibull分布和Peck模型的应力-寿命加速试验方法,并根据贝尔实验室的推荐公式得出加速试验的基本参数.为验证电气二次设备寿命提供了试验的理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜帅		6	171	5.0	6.0
2	杜军		2	24	2.0	2.0
3	席亚克		5	134	4.0	5.0
4	牛强		5	56	4.0	5.0
5	梁经宛		2	15	2.0	2.0
6	刘志远		2	15	2.0	2.0