X射线荧光光谱分析法在标准物质均匀性检验方面的实践与应用

• 作者: 李海峰 马联弟
• 来源期刊: 中国计量
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 化学计量与分析技术
• 页码范围: 81-82
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

均匀性检验是标准物质研制过程中必不可少的程序,是确保量值准确、可靠的基本条件.均匀性检验的目的是判断特性量值在样品不同部位之间是否均匀以及不均匀的程度.可用于均匀性检验的仪器和方法较多,包括电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子吸收分光光度计(AAS)等.X射线荧光光谱仪也是重要的无机元素分析工具,在样品均匀性检验方面应用尤其广泛.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马联弟		23	47	4.0	5.0
2	李海峰		19	126	5.0	11.0