电冲击加速退化试验的雷达电路板故障趋势预测方法研究

• 作者: 张国龙 李伟 梁玉英 蔡金燕
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 电冲击试验 雷达电路板 故障预测 多性能参数 相像系数 退化建模
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 653-655,663
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文

摘要

以某型雷达18V20kHz信号板为研究对象,运用性能退化可靠性理论,对雷达电路板进行了可靠性分析;利用试验数据分析得到电冲击下雷达电路板性能退化规律;针对多性能退化参数故障预测方法模型复杂求解困难的特点,将信号处理与性能退化理论相结合,提出了基于相像系数的多性能退化参数故障趋势预测方法;从信号特征提取角度出发,利用相像系数融合多个性能参数的退化特征解决了多性能参数特征提取的难点,然后利用Wiener过程描述相像系数的退化规律,进行建模,由于模型过于复杂,采用了MCMC方法进行参数估计;最后通过雷达电路板电冲击试验验证了该方法的有效性,同时也为多性能参数下雷达板级电路故障趋势预测提供了技术支撑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕	军械工程学院电子与光学工程系	144	811	13.0	18.0
2	张国龙	军械工程学院电子与光学工程系	24	78	5.0	7.0
3	梁玉英	军械工程学院电子与光学工程系	69	362	10.0	15.0
4	李伟	军械工程学院电子与光学工程系	51	246	9.0	12.0