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一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法
一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法
作者:
朱旭光
江建慧
肖杰
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
门级电路可靠性评估
宏门
逻辑划分
概率方法
迭代概率转移矩阵模型
摘要:
纳米工艺的快速发展既给电路设计创造了新的机会,同时也带来了新的挑战,基于纳米器件的电路可靠性设计便是主要挑战之一,因此有必要研究在设计的早期阶段便能准确地评估电路可靠性的方法.考虑到经典的概率转移矩阵方法在电路可靠性计算中的优势与不足,文中提出了宏门的概念和以宏门为单位的迭代概率转移矩阵模型,并设计了相应的电路可靠性评估算法,可计算从原始输入到任意引线位置的电路可靠度,该算法的复杂性与宏门的数目成线性关系.理论分析与在74系列电路和ISCAS85基准电路上的实验结果证明了文中所提方法的准确性、有效性及潜在的应用价值.
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文献信息
篇名
一种基于迭代PTM模型的电路可靠性评估方法
来源期刊
计算机学报
学科
工学
关键词
门级电路可靠性评估
宏门
逻辑划分
概率方法
迭代概率转移矩阵模型
年,卷(期)
2014,(7)
所属期刊栏目
芯片设计及嵌入式系统
研究方向
页码范围
1508-1520
页数
13页
分类号
TP331
字数
12066字
语种
中文
DOI
10.3724/SP.J.1016.2014.01508
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
江建慧
同济大学软件学院
91
680
14.0
21.0
2
肖杰
浙江工业大学计算机科学与技术学院
22
276
7.0
16.0
6
朱旭光
同济大学软件学院
3
15
2.0
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二级参考文献(0)
1993(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2006(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2007(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
2009(3)
参考文献(3)
二级参考文献(0)
2011(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2014(1)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2014(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2015(3)
引证文献(3)
二级引证文献(0)
2016(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2017(3)
引证文献(2)
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2018(6)
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2019(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
门级电路可靠性评估
宏门
逻辑划分
概率方法
迭代概率转移矩阵模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机学报
主办单位:
中国计算机学会
中国科学院计算技术研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
0254-4164
CN:
11-1826/TP
开本:
大16开
出版地:
中国科学院计算技术研究所(北京2704信箱)
邮发代号:
2-833
创刊时间:
1978
语种:
chi
出版文献量(篇)
5154
总下载数(次)
49
总被引数(次)
187004
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