基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析

• 作者: 贾应炜
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 集成电路芯片测试系统 设计 ISO14443A协议 RFID集成电路
• 年，卷（期）: 2014,（17）
• 所属期刊栏目: 测试?测量?自动化
• 页码范围: 97-99
• 页数: 3页
• 分类号: TN06-34
• 语种: 中文

摘要

基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议，利用RFID集成电路芯片设计了一个系统，从软硬件两个方面进行设计调试，并配合优化方案解决设计问题，最终结果表明设计系统运行效果佳，稳定性好，对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾应炜		22	35	4.0	5.0