电压暂降引起敏感设备的故障频次研究

• 作者: 吴传来 王建伟 蔡维 贺惠民 锁娟
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 敏感设备 电压暂降 概率密度 故障频次
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 理论与实验研究
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TM732
• 字数: 2714字
• 语种: 中文

摘要

提出了监测点在监测时间段内电压暂降引起敏感设备故障频次的研究方法。在生活生产中，电压暂降对敏感设备的破坏是一种严重的电能质量问题，电压暂降引起敏感设备从安全状态到故障状态存在一个过渡过程，敏感设备在电压暂降耐受区域内故障与否存在不确定性。本方法运用概率密度函数刻画电压暂降发生在不确定域内时引起敏感设备故障的情况，通过统计监测点在该时间段内各次电压暂降事故的特征量，通过多点测定累积得出敏感设备在该时段内的故障频次。用台式计算机作为实验设备验证本方法，并与运用ITIC曲线得出的结果进行比较，证明该方法的优越性与准确性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺惠民		8	275	4.0	8.0
2	王建伟		16	147	5.0	12.0
3	蔡维		15	91	6.0	9.0
4	锁娟		5	44	3.0	5.0
5	吴传来	四川大学电气信息学院	6	120	5.0	6.0