像素偏振片阵列制备及其在偏振图像增强中的应用

• 作者: 仇康 伍小平 张志刚 张青川 程腾 董凤良 褚卫国 高杰
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 偏振片阵列 金属纳米光栅 偏振透射率 消光比
• 年，卷（期）: 2014,（18）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 184204-1-184204-10
• 页数: 1页
• 分类号: 42.25.Ja|42.87.Bg|81.16.Nd
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.63.184204

摘要

像素偏振片阵列在实时测量光的斯托克斯参量方面具有重要的应用.本文设计和制作了基于金属铝纳米光栅的像素偏振片阵列,制作工艺基于电子束曝光技术.偏振片阵列单元尺寸为7.4μm,每相邻2×2单元的透偏振方向分别为0,π/4,π/2和3π/4.光栅周期为140 nm,占空比为0.5,深度100 nm,光栅面型为矩形.像素偏振片阵列的扫描电子显微镜照片显示,制备的偏振片阵列的金属纳米光栅栅线无断线、无交叉、无杂物污染,光栅栅线结构平直,厚度均匀,满足理想矩形面型.采用偏振光作为照明光的光学显微镜拍摄图片显示,像素偏振片阵列整体形状规则,具有很好的偏振特性,最大偏振透射率可达到79.3%,消光比可达到454.将像素偏振片阵列与CCD (charge coupled device)集成在一起,采集单帧图像即可计算图像的斯托克斯参量,从而得到拍摄物体线偏振度图像和线偏振角图像,实现了偏振增强,可应用于目标反隐和识别.