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摘要:
凸块是先进的半导体制造前段工艺良率测试所必须的,也是未来三维晶圆级封装技术的基础.随着移动互联网市场规模的不断扩大,以及40纳米及28纳米等先进IC制造工艺的大量采用,终端芯片对凸块加工的需求急剧增长.中芯国际与长电科技联手打造中国IC制造产业链.
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文献信息
篇名 中芯国际与长电科技联手打造中国IC制造产业链
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 集成电路 封装 Flip-Chip Bumping
年,卷(期) 2014,(3) 所属期刊栏目 业界风云
研究方向 页码范围 14-15
页数 2页 分类号 TN405
字数 1476字 语种 中文
DOI
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
封装
Flip-Chip
Bumping
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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