一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现

• 作者: 余光清 刘恩海 周锋 岳永坚
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 码盘缺陷 检测 亮点或暗斑 相位差 FPGA仿真
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 光电技术应用
• 页码范围: 701-704
• 分类号: TM930.2
• 语种: 中文

摘要

光电码盘在实际研究和使用过程中遇到的质量问题,如码道有亮点或暗斑、码道间相位差误差过大等缺陷,会严重影响光电编码器的测量精度.提出一种新式码盘缺陷检测方法,通过FPGA仿真分析实现检测码道上亮点或暗斑位置以及各码道间的相位差,并确定相位差误差大小.通过实验仿真验证了所提出方法的有效性和可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘恩海	中国科学院光电技术研究所	48	634	14.0	24.0
2	周锋	中国科学院光电技术研究所	4	3	1.0	1.0
6	岳永坚	中国科学院光电技术研究所	15	116	5.0	10.0
7	余光清	中国科学院光电技术研究所	3	15	1.0	3.0