含微网智能配网自愈过程过电压影响因素

• 作者: 何金良 张若兵 殷禹 胡军 蔡静文
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 微网 智能配网 配网自愈 过电压 影响因素 PSCAD
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 电力系统安全与运行
• 页码范围: 1559-1566
• 页数: 8页
• 字数: 5295字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.05.037

摘要

为了研究含微网的智能配网自愈过程过电压受不同因素影响的变化规律,针对短路故障下的这种过电压问题,搭建了含微网的智能配网仿真模型,选取一个故障位置与一种故障类型及对应的自愈过程作为研究内容,分别探讨了微网规模、配网规模和配网电缆长度等因素对过电压的影响.仿真结果表明:仿真系统的最大过电压随微网规模的扩大在整体上呈增大的变化趋势,随配网规模的扩大在整体上呈现减小的变化趋势,随配网电缆长度的增大则呈先减小后增大的变化趋势.仿真结果可作为实际系统针对性的过电压保护设计的参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何金良	清华大学电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室	191	4481	38.0	55.0
2	张若兵	清华大学深圳研究生院	37	473	12.0	21.0
3	殷禹		25	537	15.0	23.0
4	胡军	清华大学电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室	36	347	10.0	18.0
5	蔡静文	清华大学电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室	1	20	1.0	1.0