JTUIS超声成像无损检测系统研究进展

• 作者: 宋威 杨晔 潘希德
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 超声成像 无损检测 钎焊 电触头
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 2794字
• 语种: 中文

摘要

JTUIS超声成像无损检测系统在传统超声探伤基础上,结合计算机技术、图像处理技术等实现了对触头焊接质量进行检测,并可以进行定性、定量的分析.简要介绍了JTUIS-Ⅲ、Ⅳ、Ⅳ+、Va,从硬件、软件两方面简要叙述了系统的研究进展及所取得的成果,包括系统集成度的提高、信号处理以及图像处理方法的改进、系统软件的扩充与优化等.试验以及实际应用表明,改进系统检测的稳定性、可靠性和重复性都得到实质性的提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘希德	西安交通大学焊接研究所	28	179	7.0	12.0
2	杨晔	西安交通大学焊接研究所	6	25	3.0	5.0
3	宋威	西安交通大学焊接研究所	4	72	3.0	4.0