基于QA3000的VDMOS芯片RG测试技术改造

• 作者: 姜方友
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: RG测试 方案 性能 嵌入式 技术改造 工艺分析
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 63-68,72
• 页数: 7页
• 分类号: TN386
• 语种: 中文

摘要

该文简要介绍了QA3000系统的测试能力和VDMOS芯片的基本构造原理,通过对现有测试设备性能特点和VDMOS芯片RG参数测试原理进行分析,协同设备供应商一起通过技术方案论证,设计出一种基于QA3000测试系统的”嵌入式RG测试改造”技术解决方案 该技术改造方案设计独特,开发周期短,测试性能稳定;改造方案的成功开发,解决了中测VDMOS芯片RG参数测试问题,方便工艺跟踪分析,提升产品品质和市场竞争力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜方友		3	1	1.0	1.0