机载电子设备BIT技术研究

• 作者: 徐忠锦 汪远银 王香
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设备 BIT 机内自测试 虚警
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TN06|TP206.1
• 字数: 3565字
• 语种: 中文

摘要

BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容.首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题.然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法.实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王香		3	20	2.0	3.0
2	汪远银		8	19	2.0	4.0
3	徐忠锦		2	23	2.0	2.0